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哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP

哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP

更新時間:2024-06-16

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簡要描述:
哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP可產(chǎn)生徑向彈性變形并帶有外齒的柔輪和一個裝在柔輪內(nèi)部、呈橢圓形、外圈帶有柔性滾動軸承的波發(fā)生器。
品牌其他品牌貨號123
規(guī)格CSG-40-80-2UH-SP供貨周期一個月以上
主要用途機(jī)械設(shè)備應(yīng)用領(lǐng)域電子
名稱哈默納科用途半導(dǎo)體、機(jī)器人、機(jī)械設(shè)備
材質(zhì)是否進(jìn)口

接觸形式與測頭的選擇

   在接觸測量中,體現(xiàn)被測參數(shù)的表面與量儀之間的接觸形式分為三種:點接觸形式,如球形測頭與平面工件接觸;線接觸形式哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP,如平面測頭與圓柱形工件表面接觸;面接觸形式,如平面測頭與平面工件接觸。

   接觸形式對測量結(jié)果有影響。正確選擇接觸形式的原則是優(yōu)先考慮采用點接觸;在條件不允許或?qū)崿F(xiàn)較為困難時,哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP考慮采用線接觸;不得已時才采用面接觸。

對線紋尺的檢定方法有相對測量法和測量法。在相對測量法檢定線紋尺中,將被檢定線紋尺與比其精度等級高一等的標(biāo)準(zhǔn)線紋尺在線紋尺比較儀上作相對測量,讀出二者刻線間距的長度差,從而確定被檢線紋尺刻線間距的誤差。在測量法檢定線紋尺中,將被檢線紋尺在激光干涉比長儀上進(jìn)行測量。其實質(zhì)是將被檢線紋尺的刻線間距轉(zhuǎn)變成為三面直角棱鏡的位移,從而使干涉系統(tǒng)中兩相干光束的光程差發(fā)生相應(yīng)的變化,通過光電接收器對干涉條紋明暗交替次數(shù)的檢測,即可求出被檢線紋尺相應(yīng)刻線間距的誤差在線紋量值傳遞系統(tǒng)中,

                                  

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